IEC 61000 的这一部分侧重于使用各种类型的横向电磁 (TEM) 波导的电气和电子设备的发射和抗扰度测试方法。这些类型包括开放结构（例如带状线和电磁脉冲模拟器）和封闭结构（例如 TEM 单元）。这些结构可以进一步分为单端口、双端口或多端口 TEM 波导。频率范围取决于特定的测试要求和特定的 TEM 波导类型。

　　本文件的目的是描述
　　
　　– TEM 波导特性，包括典型频率范围和被测设备 (EUT) 尺寸限制；
　　
　　– 用于电磁兼容性 (EMC) 测试的 TEM 波导验证方法；
　　
　　– EUT（即EUT机柜和布线）定义；– TEM波导
　　
　　中辐射发射测量的测试设置、程序和要求；
　　
　　TEM 波导中辐射抗扰度测试的测试设置、程序和要求。
　　
　　注：本文件定义了测试方法，用于测量电磁辐射对设备的影响以及相关设备的电磁辐射。电磁辐射的模拟和测量对于定量确定对所有最终用途的影响不够准确安装。定义的测试方法的主要目标是在各种测试设施上建立足够的结果重现性，以便对影响进行定性分析。
　　
　　本文件不打算指定适用于任何特定设备或
　　
　　系统的测试。
　　
　　本文件的主要目的是为IEC所有感兴趣的产品委员会提供一个通用的基本参考。对于辐射发射测量，产品
　　
　　委员会根据 CISPR
　　
　　标准选择发射限值和测量方法。For radiated immunity testing, product committees remain responsible for the
　　
　　appropriate choice of immunity tests and immunity test limits to be applied to equipment within
　　
　　他们的范围。本文件描述了独立于
　　
　　IEC 61000-4-3 [34].1的测试方法